시설 장비
소자제작
광전효과에 의해 튀어나오는 광전자를 검출하여 일함수 및 에너지 준위를 측정함
광전자 분광법은 단일 파장의 빛을 시료에 쪼여서 광전효과에 의해서 튀어나오는 광전자의 세기를 운동에너지에 따라 분석하여 시료의 전자상태를 알아내는 기술이다. 광전자 분광기는 자외선을 에너지원으로 하여 고체표면에 조사하였을 때 방출하는 낮은 에너지의 광전자를 검출하여 일함수를 측정하는 장비이다. 이 때 조사된 자외선의 파장을 에너지값으로 환산하여 일함수를 계산할 수 있다.
E = h × c/λ (h: Planck's constant, c: speed of light)
1. Photoelectron measurement energy scanning range : 3.4~6.2 eV
2. UV intensity measurement energy scanning range : 3.4~6.2 eV
3. Repeatability : Work function 0.02 eV (sample : metal plate)
4. Ultraviolet Lamp : deuterium lamp
5. UV spot size : Not to exceed 4 mm × 4 mm
6. Sample shape : Max 50 mm × 50 mm, Max. thickness 10 mm
일반적으로 film이나 metal plate의 형태로 측정 진행하나, holder에 넣어 powder 또는 solution 상태로도 측정이 가능합니다.